Thiết Bị Đo và Phân Tích Bề Mặt

12 Sản phẩm

Surtronic Duo là máy đo độ nhám cầm tay đơn giản chỉ cần 1 cú click là có thể đo được các thông số độ nhám như Ra, Rz, Rp, Rv, Rt và đồ thị độ nhám trên màn hình LCD 2.4”

Là thiết kế mới nhất của dòng đo độ nhám cơ bản Surtronic, kết hợp màn hình màu cảm ứng 4.3” và pin sạc với khả năng đo liên tục đến 2000 lần. Hiển thị đồ họa và kết nối cổng USB tiện dụng cho việc in ấn và kết nối máy tính.

Thiết bị có vỏ bảo vệ chắc chắn, model Intra phù hợp với các ứng dụng đo độ nhám và biên dạng bề mặt yêu cầu tính di động cao nhưng vẫn đáp ứng các tiêu chí về độ chính xác và tính linh hoạt khi sử dụng ở công trường

Tương tự dòng Form Talysurf Intra nhưng được trang bị PC và màn hình cảm ứng, tăng cường tính linh động khi sử dụng tại hiện trường.

Dựa trên sự phát triển của công nghệ đầu đo cảm ứng, hệ thống đo và phân tích độ nhám/ biên dạng Form Talysurf i-Series cung cấp chuẩn mực về độ chính xác cũng như độ tin cậy

Hệ thống đo độ nhám và dạng sóng sử dụng công nghệ cảm ứng với nhiễu thấp và độ phân giải cao, Talysurf i-Series là giải pháp lý tưởng cho các ngành công nghiệp ô tô, vòng bi, hộp số và nhiều ứng dụng khác

Form Talysurf® PGI Series là dòng hệ thống đo và phân tích độ nhám, biên dạng đa năng sử dụng công nghệ giao thoa sóng laser cho kết quả siêu chính xác, phù hợp với các ứng dụng yêu cầu độ chính xác cao và các phân tích cao cấp

LuphoScan là hệ thống đo quét giao thoa dựa trên công nghệ MWLI® (giao thoa đa sóng). Hệ thống được thiết kế đo 3D không tiếp trên bề mặt các loại kính quang học một cách chính xác

Hệ thống đo và phân tích bề mặt 3D không tiếp xúc CCI Optic được thiết kế đặc biệt cho các ứng dụng kiểm tra kính quang học dựa trên lý thuyết giao thoa sóng ánh sáng, cung cấp độ phân giải cao đến 2048 x 2028 pixel

Hệ thống đo và phân tích bề mặt 3D không tiếp xúc CCI MP là dòng phổ thông cho các ứng dụng đo bề mặt đánh bóng đến

Được thiết kế để sử dụng trong các nhà máy sản xuất và nghiên cứu, CCI HD có thể đo được chiều dày mỏng đến 1.5 micron và phân tích lớp phủ đến 50nm

Lý tưởng cho việc nghiên cứu, CCI MP-HS đo tất cả các thông số bề mặt từ rất nhám đến rất bóng, cung cấp khả năng đo linh hoạt trên nhiều loại mẫu khác nhau



Liên Hệ

Liên hệ với chúng tôi để được tư vấn về Sản phẩm và các Giải pháp kỹ thuật